新技術的采用和精細的設計

ZSXPrimusIV的各組件都(dou)使用著(zhu)先端(duan)的要素(su)技術，具(ju)有要求高精細的研究，和對大量(liang)測量(liang)的日(ri)常質量(liang)。

一次X射線濾光片

X射(she)線(xian)(xian)(xian)濾(lv)光(guang)片設置(zhi)在X射(she)線(xian)(xian)(xian)光(guang)管和樣(yang)品之間，用于減輕X射(she)線(xian)(xian)(xian)光(guang)管發(fa)出的連續(xu)X射(she)線(xian)(xian)(xian)或特征(zheng)X射(she)線(xian)(xian)(xian)對分析譜線(xian)(xian)(xian)的妨(fang)礙(ai)。

不需要PR氣體的S-PCLE

可(ke)以選配(pei)測量(liang)輕元(yuan)素的氣(qi)體封閉型正比計數器(S-PC LE)。方便在(zai)難以購置PR氣(qi)體的地方使用(yong)。注(zhu):使用(yong)F-PC檢測器時，必須使用(yong)檢測器用(yong)氣(qi)體(PR氣(qi)體)

散射線SQX

推定樣品中非(fei)(fei)測(ce)(ce)量成(cheng)(cheng)分的超輕元素(C、H、O、N)的影響，使用散射線強度來(lai)實(shi)現。污泥、水垢等含有非(fei)(fei)測(ce)(ce)量成(cheng)(cheng)分的樣品，不做非(fei)(fei)測(ce)(ce)量成(cheng)(cheng)分設定便可進行更加準確(que)的近(jin)似定量分析。

高靈敏度彎晶

使用在(zai)SQX程序中，提(ti)(ti)高(gao)(gao)無標樣定(ding)量分析的(de)靈(ling)敏(min)度(du)(du)。可(ke)配置(zhi)PET彎晶(jing)(jing)和(he)Ge彎晶(jing)(jing)。高(gao)(gao)靈(ling)敏(min)度(du)(du)Ge彎晶(jing)(jing)與平晶(jing)(jing)相比(bi)，對P、S的(de)靈(ling)敏(min)度(du)(du)提(ti)(ti)高(gao)(gao)了(le)30%；高(gao)(gao)靈(ling)敏(min)度(du)(du)PRT彎晶(jing)(jing)與平晶(jing)(jing)相比(bi)，Al、Si的(de)靈(ling)敏(min)度(du)(du)提(ti)(ti)高(gao)(gao)了(le)30%。

液體樣品盒自動識別機構

液(ye)體(ti)樣(yang)品盒自(zi)動(dong)識別機構，避免液(ye)體(ti)樣(yang)品盒在真空狀態(tai)下進入樣(yang)品室，從而放(fang)心地測(ce)量(liang)液(ye)體(ti)樣(yang)品。分析液(ye)體(ti)樣(yang)品時(shi)，樣(yang)品室需要置(zhi)換(huan)成He氣(qi)氛圍。

液體樣品分析用真空封擋系統

在(zai)樣品室和分析(xi)室之間以隔壁(bi)封擋方(fang)式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時間。

硬件安全、維護方便、軟件安心

操作失誤(wu)會導致儀(yi)器損壞，高性(xing)能的精(jing)密分(fen)(fen)析儀(yi)器ZSXPrimusIV設(she)計(ji)，采用上照射方式(shi)，即便粉末樣品(pin)發(fa)生粉末飛散也(ye)不會損壞儀(yi)器。設(she)計(ji)為防止操作失誤(wu)的用戶分(fen)(fen)級管理方式(shi)。