金(jin)相顯微鏡不(bu)僅能觀(guan)(guan)(guan)察物體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)輪(lun)廓、表面等(deng)，還能加上DIC后，在(zai)(zai)材(cai)料顯(xian)微分(fen)析(xi)中(zhong)使(shi)用(yong)微分(fen)干(gan)涉相(xiang)(xiang)襯法(fa)觀(guan)(guan)(guan)察物體(ti)，能夠容(rong)易(yi)判(pan)斷許多明場下(xia)所看(kan)不(bu)到的(de)(de)(de)(de)(de)或難于(yu)判(pan)別的(de)(de)(de)(de)(de)一些結構細(xi)節或缺(que)陷(xian)，常應用(yong)于(yu)觀(guan)(guan)(guan)察導電粒子，壓迫等(deng)。微分(fen)干(gan)涉相(xiang)(xiang)襯法(fa)具有(you)對(dui)金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)樣品的(de)(de)(de)(de)(de)制備要(yao)求較(jiao)低，所觀(guan)(guan)(guan)察到的(de)(de)(de)(de)(de)樣品各組(zu)成相(xiang)(xiang)間的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)對(dui)層(ceng)次關系突出，同時也增(zeng)加了各相(xiang)(xiang)間的(de)(de)(de)(de)(de)反差。使(shi)其被觀(guan)(guan)(guan)察物呈明顯(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)浮雕狀，對(dui)顆粒、裂紋、孔洞(dong)以(yi)及凸起等(deng)。利用(yong)DIC法(fa)，可以(yi)對(dui)金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)組(zu)織的(de)(de)(de)(de)(de)某些精細(xi)結構進(jin)行觀(guan)(guan)(guan)察，可以(yi)在(zai)(zai)降低金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)制樣要(yao)求的(de)(de)(de)(de)(de)情況下(xia)，通過(guo)DIC染色把需(xu)要(yao)分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)物相(xiang)(xiang)突出出來，從而提高分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)準(zhun)確率。DIC 法(fa)必然會在(zai)(zai)現代金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)檢(jian)驗(yan)中(zhong)發揮其重要(yao)作用(yong)。金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微鏡(jing)電子目(mu)鏡(jing)適用(yong)于(yu)任何標準(zhun)的(de)(de)(de)(de)(de)生物、體(ti)視、金(jin)(jin)相(xiang)(xiang)顯(xian)微鏡(jing)的(de)(de)(de)(de)(de)拍攝，可以(yi)廣(guang)泛的(de)(de)(de)(de)(de)應用(yong)于(yu)醫(yi)療衛生機構、實(shi)驗(yan)室、研(yan)究(jiu)所、高等(deng)學(xue)校做生物學(xue)、病理學(xue)、細(xi)菌學(xue)觀(guan)(guan)(guan)察、教學(xue)和研(yan)究(jiu)、臨床實(shi)驗(yan)和常規醫(yi)療檢(jian)驗(yan)；工廠(chang)、實(shi)驗(yan)室對(dui)材(cai)料的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)析(xi)和鑒(jian)定。
金相顯微鏡由(you)于易于操作(zuo)、視場較大(da)、價格相對低，直到現在仍然是常(chang)規檢驗和研(yan)究工作(zuo)中常(chang)使(shi)用的(de)儀器.
金(jin)(jin)相(xiang)顯(xian)微鏡在(zai)工(gong)(gong)業測量里面，精(jing)度(du)大于影像測量儀，一般對精(jing)度(du)比較高的零件(jian)測量來說都要金(jin)(jin)相(xiang)顯(xian)微鏡來解決(jue)。 金(jin)(jin)相(xiang)顯(xian)微鏡是適用(yong)于現場多種大型(xing)工(gong)(gong)件(jian)的金(jin)(jin)相(xiang)檢查，失(shi)效分析的顯(xian)微鏡,它不用(yong)切割取樣，直(zhi)接(jie)在(zai)工(gong)(gong)件(jian)上打(da)磨(mo)、拋(pao)光，從而保證工(gong)(gong)件(jian)的完整性.顯(xian)微鏡底(di)座帶有磁力(li)吸(xi)座，直(zhi)接(jie)吸(xi)附在(zai)工(gong)(gong)件(jian)上觀察組織的現場金(jin)(jin)相(xiang)檢驗。
金相(xiang)顯微鏡(jing)(jing)系(xi)統(tong)是將傳統(tong)的光學(xue)顯微鏡(jing)(jing)與(yu)計(ji)算機(ji)（數碼相(xiang)機(ji)）通過光電轉換有機(ji)的結合在一起，不僅(jin)可(ke)以在目鏡(jing)(jing)上(shang)(shang)作顯微觀(guan)察(cha)，還能在計(ji)算機(ji)（數碼相(xiang)機(ji)）顯示屏幕上(shang)(shang)觀(guan)察(cha)實時動態圖(tu)像，電腦型金相(xiang)顯微鏡(jing)(jing)并能將所需要(yao)的圖(tu)片進行(xing)編輯、保存和打印。
金相學主要(yao)(yao)指借助(zhu)光(guang)學（金相）顯微(wei)(wei)鏡和(he)體視(shi)顯微(wei)(wei)鏡等對材(cai)料顯微(wei)(wei)組織(zhi)(zhi)、低倍(bei)組織(zhi)(zhi)和(he)斷口組織(zhi)(zhi)等進行分析研究(jiu)和(he)表(biao)征的(de)(de)材(cai)料學科分支(zhi)，既(ji)包含材(cai)料顯微(wei)(wei)組織(zhi)(zhi)的(de)(de)成(cheng)像(xiang)及其定性、定量表(biao)征，亦包含必要(yao)(yao)的(de)(de)樣品制備(bei)、準(zhun)備(bei)和(he)取樣方法。其主要(yao)(yao)反映(ying)和(he)表(biao)征構成(cheng)材(cai)料的(de)(de)相和(he)組織(zhi)(zhi)組成(cheng)物、晶粒（亦包括可能存在的(de)(de)亞晶）、非金屬(shu)夾雜(za)物乃至某(mou)些晶體缺陷（例如位錯(cuo)）的(de)(de)數量、形貌(mao)、大小、分布、取向(xiang)、空間排布狀態(tai)等。
特點：
1.采用(yong)(yong)雙(shuang)重(zhong)色彩(cai)校正及(ji)反差增強(qiang)型(xing)（ICCS）光(guang)學系(xi)統，為用(yong)(yong)戶提供(gong)銳利的圖(tu)像。
2.采用5種上部(bu)(bu)部(bu)(bu)件和3種下部(bu)(bu)部(bu)(bu)件及兩個立柱組合方式，可(ke)根(gen)據(ju)您對材料檢測(ce)的(de)(de)要求(qiu)和經濟成本進行任意(yi)靈活的(de)(de)組合，可(ke)實現(xian)對透(tou)明材料、不透(tou)明材料以及熒光材料的(de)(de)分(fen)析，同時具有大的(de)(de)升級(ji)空間，保證您未來的(de)(de)檢測(ce)要求(qiu)。
3. 貼近用戶的(de)靈活(huo)性，設(she)備的(de)部件升級無需專業人員(yuan)，用戶可自行(xing)操作完成(cheng)。 
