多模式原子力顯微鏡?主要功能特點

1、掃(sao)描探頭和樣(yang)品(pin)臺集成一體，抗干(gan)擾能力強；

2、精密(mi)激光及探(tan)針(zhen)定位(wei)裝置，更換探(tan)針(zhen)及調(diao)節光斑簡單(dan)方便；

3、采(cai)用樣品趨近探針方式，使針尖(jian)垂直(zhi)于樣品掃(sao)描；

4、馬達自動脈沖控制驅動樣品垂直(zhi)接近探針(zhen)，實現掃(sao)描區域(yu)精確定(ding)位；

5、高(gao)精度樣(yang)品(pin)移動裝置，可自(zi)由(you)移動感(gan)興趣的(de)樣(yang)品(pin)掃描區域；

6、帶光學定位的CCD觀(guan)測系統，實時觀(guan)測與定位探(tan)針樣品掃描區域；

7、模塊化的(de)電(dian)子(zi)控制系統設計，便于電(dian)路的(de)持續(xu)改進(jin)與維護；

8、集成多種(zhong)掃描工(gong)作模(mo)式(shi)控制電路，配合軟件系(xi)統使(shi)用(yong)；

9、彈簧(huang)懸掛(gua)式防震方式，簡單(dan)實用，抗干擾能力強。

多模式原子力顯微鏡主要技術指標

1、工作模式：接觸模式、輕敲(qiao)模式，可選配(pei)摩擦(ca)力(li)、相位、磁(ci)力(li)或靜電力(li)

2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、掃(sao)描范圍(wei)：XY向20um，Z向2um

4、掃描分辨率：XY向(xiang)0.2nm，Z向(xiang)0.05nm

5、樣品移(yi)動范(fan)圍：±6.5mm

6、馬達趨(qu)近脈(mo)沖寬度(du)：10±2ms

7、圖像采樣點：256×256，512×512

8、光學放大倍數(shu)4X，光學分辨率2.5um

9、掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°

10、掃描(miao)控制：XY采(cai)用(yong)18-bit D/A，Z采(cai)用(yong)16-bit D/A

11、數據(ju)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣

12、反(fan)饋方式：DSP數字(zi)反(fan)饋

13、反饋采樣速率：64.0KHz

14、計(ji)算機接口：USB2.0

15、運行環境：運行于(yu)Windows98/2000/XP/7/8操作系統

友好的軟件界面和操作功能

1. 多通道圖(tu)像同(tong)步采集顯示，實時查看(kan)剖面圖(tu)；

2. 多種(zhong)曲線力-間(jian)距(ju)(F-Z)、頻率(lv)-RMS（f-RMS）、RMS-間(jian)隙(xi)（RMS-Z）測量功能；

3. 可進行掃描區(qu)域偏移(yi)、剪(jian)切(qie)功能，任(ren)意選擇(ze)感興趣的樣品區(qu)域；

4. 可任意(yi)選擇樣(yang)品(pin)起始掃(sao)描(miao)角度；

5. 激光光斑檢測系(xi)統的實時調整功(gong)能；

6. 針尖(jian)共振(zhen)峰自動和手動搜索(suo)功(gong)能；

7. 可任意定義掃描(miao)圖像的色(se)板功能；

8. 支持樣品傾斜線平(ping)均、偏(pian)置實時校(xiao)正功能；

9. 支持掃(sao)描器靈(ling)敏度(du)校正和電子學(xue)控制器自動校正；

FSM-AFM操作軟件主要功能特點

1、可實時觀測(ce)樣品掃描時的表(biao)面形貌像(xiang)、振幅像(xiang)和相位像(xiang)；

2、具備接觸、輕敲、相位(wei)、摩擦力、磁(ci)力或靜電力工作模式；

3、可自(zi)由選擇圖像采樣(yang)點為(wei)256×256或512×512；

4、多通(tong)道圖像同步采集顯示，實(shi)時查(cha)看剖面圖；

5、多(duo)種(zhong)曲(qu)線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

6、可(ke)進(jin)行掃(sao)描區域偏移、剪切功能，任意選(xuan)擇感興趣的樣品區域；

7、可任意選擇樣品起(qi)始掃描角度；

8、激(ji)光光斑檢測系統的(de)實時調整功能；

9、針(zhen)尖共(gong)振峰自動(dong)和手動(dong)搜索功能(neng)；

10、可(ke)任意定義掃描(miao)圖像的色板(ban)功(gong)能；

11、支(zhi)持樣(yang)品傾斜線平均(jun)、偏置實(shi)時校正功能；

12、支持掃描器(qi)靈(ling)敏度校(xiao)(xiao)正和電子學控制器(qi)自動校(xiao)(xiao)正；

13、支(zhi)持樣品(pin)圖片離線分析(xi)與(yu)處(chu)理功能。