飛時曼原子力顯微鏡  FM-Nanoview Tapping介紹：

主要功能特點

1、掃(sao)描(miao)探頭和樣(yang)品臺集成(cheng)一(yi)體，抗(kang)干擾能力強(qiang)；

2、精(jing)密激光(guang)及探針定位裝置，更(geng)換(huan)探針及調節(jie)光(guang)斑簡單方便；

3、采用樣品趨近探針(zhen)方式，使針(zhen)尖垂(chui)直于樣品掃描；

4、馬達自動(dong)脈沖控制驅(qu)動(dong)樣品垂直接近探針，實現掃(sao)描區(qu)域精確定位；

5、高精度樣品(pin)移動(dong)裝置，可自由移動(dong)感興趣的(de)樣品(pin)掃描區(qu)域(yu)；

6、帶光學定位(wei)的(de)CCD觀測系統，實時觀測與(yu)定位(wei)探針樣品掃描區(qu)域；

7、模塊化的電子(zi)控制(zhi)系統設(she)計(ji)，便于電路的持續改進與維護；

8、集成多種(zhong)掃描工作模式(shi)控制電路，配(pei)合軟件系統(tong)使(shi)用；

9、彈簧懸(xuan)掛式(shi)防震方式(shi)，簡單實(shi)用，抗(kang)干擾能力強。

主要技術指標

1、工作模式：輕敲模式，可選配(pei)接觸、摩擦力(li)、相位(wei)、磁力(li)或靜電力(li)

2、樣(yang)品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、掃描(miao)范圍(wei)：XY向20um，Z向2um

4、掃描分(fen)辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm

5、樣(yang)品移動范圍(wei)：±6.5mm

6、馬(ma)達趨近脈沖寬度(du)：10±2ms

7、圖像采(cai)樣點：256×256，512×512

8、光學放大倍數(shu)4X，光學分(fen)辨率(lv)2.5um

9、掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°

10、掃描控制：XY采(cai)用18-bit D/A，Z采(cai)用16-bit D/A

11、數據采(cai)樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步(bu)采(cai)樣

12、反(fan)饋方式：DSP數(shu)字(zi)反(fan)饋

13、反饋采樣速(su)率：64.0KHz

14、計(ji)算(suan)機(ji)接口：USB2.0

15、運行(xing)(xing)環境：運行(xing)(xing)于Windows98/2000/XP/7/8操(cao)作(zuo)系統

友好的(de)軟件(jian)界面和(he)操作(zuo)功能

飛時曼原子力顯微鏡 

1. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；

2. 多(duo)種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

3. 可進行掃描區域偏移、剪切功(gong)能，任(ren)意選擇感興趣的樣品區域；

4. 可(ke)任意選擇樣品(pin)起始(shi)掃描角度；

5. 激光光斑檢測系統的(de)實時調整(zheng)功能；

6. 針尖共振(zhen)峰自動和手動搜索功能；

7. 可任意定義掃描圖(tu)像的(de)色板(ban)功(gong)能(neng)；

8. 支(zhi)持樣品傾斜線平均、偏置實(shi)時校(xiao)正功能；

9. 支(zhi)持掃描器靈敏(min)度校正和(he)電子學控制器自動(dong)校正；

FSM-AFM操(cao)作軟件主要(yao)功能特(te)點

1、可實時觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具備接觸(chu)、輕敲(qiao)、相位、摩擦力(li)、磁力(li)或靜電力(li)工作模式(shi)；

3、可(ke)自由選擇圖(tu)像采(cai)樣點為256×256或512×512；

4、多通道圖(tu)像(xiang)同步(bu)采(cai)集顯示，實(shi)時查看剖面圖(tu)；

5、多種(zhong)曲線力-間(jian)距(F-Z)、頻(pin)率-RMS（f-RMS）、RMS-間(jian)隙（RMS-Z）測量功能；

6、可進行掃描區域偏(pian)移(yi)、剪切(qie)功能，任(ren)意選擇(ze)感(gan)興趣(qu)的樣品區域；

7、可(ke)任意(yi)選(xuan)擇樣(yang)品起始掃描角度(du)；

8、激光(guang)光(guang)斑檢測系統的實(shi)時調(diao)整功能(neng)；

9、針尖共振(zhen)峰自(zi)動(dong)和手動(dong)搜索功能；

10、可任意定義(yi)掃描圖像的色(se)板功能；

11、支持樣(yang)品傾斜線平均、偏置實時校正功能；

12、支(zhi)持掃描器靈敏(min)度校(xiao)正(zheng)和(he)電子學(xue)控制器自動校(xiao)正(zheng)；

13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。