HITACHI SU-8010高分辨場發射掃描電鏡包括SU-8010主機和(he)E-1045噴(pen)(pen)鉑噴(pen)(pen)碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速(su)電(dian)壓(ya)為(wei)15kV時，分(fen)辨率為(wei)1.0nm，加速(su)電(dian)壓(ya)為(wei)1kV時，分(fen)辨率為(wei)1.3nm。

日立2005年在中國推出了S-4800型高分辨場發射掃描電鏡，由(you)于(yu)出色的應用(yong)性能、良好的穩定性和(he)簡易的維護，收到了(le)各界用(yong)戶的*。

日(ri)立2011年新推出了它的(de)(de)后續機型----SU8010，它繼承(cheng)了S-4800的(de)(de)優點，性能有進(jin)一步(bu)提高，1kv使用減(jian)速功能后，分辨(bian)率提升到(dao)1.3nm，相對于S-4800可以(yi)在更(geng)低的(de)(de)加速電(dian)壓下呈高分辨(bian)像，明顯提升了以(yi)往很(hen)難觀(guan)測(ce)的(de)(de)低原子(zi)序數(shu)樣品的(de)(de)觀(guan)測(ce)效果。

產品特點：

1. 低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm

2. 日立專li的ExB設(she)計，不(bu)需噴鍍，可以(yi)直(zhi)接(jie)觀(guan)測(ce)不(bu)導電樣品

3. Upper探(tan)頭可選擇接受(shou)二次電(dian)子像(xiang)或背散射電(dian)子像(xiang)

4. 可以(yi)根據樣(yang)品類型和觀測要(yao)求選擇(ze)打開或關閉減(jian)速(su)功能(neng)

5. 標配有冷指(zhi)、電子(zi)槍內置(zhi)加熱器，物鏡光闌具有自(zi)清潔功能

6. 儀器的烘(hong)烤維護及(ji)烘(hong)烤后的透鏡機械對中均可(ke)由(you)用戶自(zi)行(xing)完成

主要用途：

掃描電鏡（SEM）可觀察(cha)(cha)(cha)納(na)米材料(liao)(liao)、材料(liao)(liao)斷口(kou)的分析、觀察(cha)(cha)(cha)原始(shi)表面、觀察(cha)(cha)(cha)區域細(xi)節、顯微結構分析等。

X射線能譜(pu)儀可進行成(cheng)分(fen)(fen)的常規微區分(fen)(fen)析：元素定(ding)量、定(ding)性成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析，實時(shi)微區成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析，快速的多元素面(mian)掃描和線掃描分(fen)(fen)布測量。分(fen)(fen)析范圍Be4~U92。

已廣泛應用于材(cai)料(liao)(liao)科學、金屬(shu)材(cai)料(liao)(liao)、陶(tao)瓷材(cai)料(liao)(liao)半導體材(cai)料(liao)(liao)、化學材(cai)料(liao)(liao)、醫藥科學以及(ji)生物等領(ling)域。